Rostislav Medlín z NTC přednášel o využití kvantových teček a spektroskopických Ab-Initio simulací

Setkání Meeting on TEM in Materials Sciences, které se konalo ve dnech 24. až 25. dubna v Brně, přispělo ke sdílení současných zkušeností s transmisní elektronovou mikroskopií (TEM) v oblastech výzkumu souvisejících s pokročilými materiály, technologiemi a mikroskopickými technikami.

Rostislav Medlín z vysokoškolského ústavu Nové technologie – výzkumné centrum prezentoval výsledky výzkumu na téma II and III. generation of Silicon based Solar Cells - basic TEM material research of nanostructured Si and TCO o využití kvantových teček pro změnu šířky zakázaného pásu u tenkovrstvých křemíkových materiálů pro solární články a zkoumání vlastností dotovaného ZnO využívaného jako transparentní vodivá elektroda s využitím EELS a jeho porovnání s modelováním spektroskopické EELS odezvy materiálu z prvních principů.